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碳化硅衬底沉积高取向金刚石薄膜

文献类型:期刊论文

作者吕继磊; 满卫东; 曹阳; 江南; 刘伟; 孙洁
刊名硬质合金
出版日期2017
卷号34期号:06页码:407-412
关键词Dc-cvd 碳化硅 沉积参数 高取向 金刚石薄膜
产权排序武汉工程大学湖北省等离子体化学与新材料重点实验室;中国科学院宁波材料技术与工程研究所;
英文摘要采用直流辉光放电等离子体设备在单晶碳化硅表面沉积高晶取向金刚石薄膜,研究了预处理方法、基片温度以及甲烷浓度(甲烷与氢气的体积比)对金刚石薄膜晶粒取向的影响。用SEM、Raman等测试方法对金刚石薄膜进行表征。结果表明:研磨处理可以提高金刚石形核密度,高的形核密度有利于金刚石薄膜的沉积;过高或过低的基片温度会使得金刚石薄膜表现出(111)面生长的趋势;高甲烷浓度和低甲烷浓度也会使得金刚石薄膜晶粒取向发生改变。最终采用850℃以及5%甲烷浓度这一沉积参数进行金刚石薄膜的沉积,制备出了取向度非常好的(100)面金刚石薄膜。
公开日期2018-12-04
源URL[http://ir.nimte.ac.cn/handle/174433/16625]  
专题2017专题
推荐引用方式
GB/T 7714
吕继磊,满卫东,曹阳,等. 碳化硅衬底沉积高取向金刚石薄膜[J]. 硬质合金,2017,34(06):407-412.
APA 吕继磊,满卫东,曹阳,江南,刘伟,&孙洁.(2017).碳化硅衬底沉积高取向金刚石薄膜.硬质合金,34(06),407-412.
MLA 吕继磊,et al."碳化硅衬底沉积高取向金刚石薄膜".硬质合金 34.06(2017):407-412.

入库方式: OAI收割

来源:宁波材料技术与工程研究所

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