精密光学元件表面疵病检测技术研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 江晓亮; 杨小军; 邓小雷; 李柏林; 赵文川 |
| 刊名 | 传感器与微系统
 |
| 出版日期 | 2017 |
| 卷号 | 36期号:11页码:25-27+31 |
| ISSN号 | 1000-9787 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/8908]  |
| 专题 | 光电技术研究所_先光中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 江晓亮,杨小军,邓小雷,等. 精密光学元件表面疵病检测技术研究[J]. 传感器与微系统,2017,36(11):25-27+31. |
| APA | 江晓亮,杨小军,邓小雷,李柏林,&赵文川.(2017).精密光学元件表面疵病检测技术研究.传感器与微系统,36(11),25-27+31. |
| MLA | 江晓亮,et al."精密光学元件表面疵病检测技术研究".传感器与微系统 36.11(2017):25-27+31. |
入库方式： OAI收割
来源：光电技术研究所
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