Single-Shot Longitudinal Beam Profile and Terahertz Diagnostics at MHz - Towards GHz-Rates with High-Throughput Electronics
文献类型：会议论文
| 作者 | M.Caselle; B.M.Balzer; M.Brosi; E.Bründermann; S.Funkner; B.Kehrer; A.-S.Müller; M.J.Nasse; G.Niehues; M.M.Patil,L.Rota |
| 会议日期 | 2017 |
| 会议地点 | Michigan, USA |
| 会议录 | Proceedings of the 6th International Beam Instrumentation Conference
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| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/266053]  |
| 专题 | 高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC |
| 作者单位 | KIT, Eggenstein-Leopoldshafen, Germany |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | M.Caselle,B.M.Balzer,M.Brosi,et al. Single-Shot Longitudinal Beam Profile and Terahertz Diagnostics at MHz - Towards GHz-Rates with High-Throughput Electronics[C]. 见:. Michigan, USA. 2017. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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