A Novel Nanotechnology Based Wire Scanner for Sub-Micrometer Resolution Measurements of the Electron Beam Profile at SwissFEL
文献类型：会议论文
| 作者 | S.Borrelli; M.Bednarzik; Ch.David; E.Ferrari; A.Gobbo; V.Guzenko; N.Hiller; R.Ischebeck; G.L.Orlandi; C.Ozkan Loch |
| 会议日期 | 2017 |
| 会议地点 | Michigan, USA |
| 会议录 | Proceedings of the 6th International Beam Instrumentation Conference
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| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/266105]  |
| 专题 | 高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC |
| 作者单位 | PSI, Villigen PSI, Switzerland |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | S.Borrelli,M.Bednarzik,Ch.David,et al. A Novel Nanotechnology Based Wire Scanner for Sub-Micrometer Resolution Measurements of the Electron Beam Profile at SwissFEL[C]. 见:. Michigan, USA. 2017. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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