A Secondary Emission Monitor in the SINQ Beam Line for Improved Target Protection
文献类型：会议论文
| 作者 | R.Dölling; M.Rohrer |
| 会议日期 | 2018 |
| 会议地点 | Korea |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/266407]  |
| 专题 | 高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_HB |
| 作者单位 | PSI, Villigen PSI, Switzerland |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | R.Dölling,M.Rohrer. A Secondary Emission Monitor in the SINQ Beam Line for Improved Target Protection[C]. 见:. Korea. 2018. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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