光电器件薄膜附着力评价方法的研究进展
文献类型:期刊论文
作者 | 钱大憨; 贾 嘉; 陈柳炼; 刘福浩; 刘 飞; 张立瑶; 叶柏松; 李向阳 |
刊名 | 红外
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出版日期 | 2011-01-10 |
卷号 | 32期号:1页码:10-15 |
关键词 | 薄膜 附着力 粘接法 光电器件 测试技术 |
英文摘要 | 薄膜与衬底的结合性能一直备受关注。在各种情况下,薄膜的性能都依赖于其与衬底的附着力大小。为了提高附着强度,需要深刻理解附着力的机理和开发合适的附着力测试技术。从基准附着力、热力学附着能和实际附着力三个不同角度提供了附着力评价途径。作为广泛使用的附着力粘接测试技术,拉脱法和压带剥落法等方法在大量样品测试方面具有独特优势,可定性、半定量地评价薄膜附着性能。 |
公开日期 | 2011-07-06 |
源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/543] ![]() |
专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 钱大憨,贾 嘉,陈柳炼,等. 光电器件薄膜附着力评价方法的研究进展[J]. 红外,2011,32(1):10-15. |
APA | 钱大憨.,贾 嘉.,陈柳炼.,刘福浩.,刘 飞.,...&李向阳.(2011).光电器件薄膜附着力评价方法的研究进展.红外,32(1),10-15. |
MLA | 钱大憨,et al."光电器件薄膜附着力评价方法的研究进展".红外 32.1(2011):10-15. |
入库方式: OAI收割
来源:上海技术物理研究所
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