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光电器件薄膜附着力评价方法的研究进展

文献类型:期刊论文

作者钱大憨; 贾 嘉; 陈柳炼; 刘福浩; 刘 飞; 张立瑶; 叶柏松; 李向阳
刊名红外
出版日期2011-01-10
卷号32期号:1页码:10-15
关键词薄膜 附着力 粘接法 光电器件 测试技术
英文摘要

薄膜与衬底的结合性能一直备受关注。在各种情况下,薄膜的性能都依赖于其与衬底的附着力大小。为了提高附着强度,需要深刻理解附着力的机理和开发合适的附着力测试技术。从基准附着力、热力学附着能和实际附着力三个不同角度提供了附着力评价途径。作为广泛使用的附着力粘接测试技术,拉脱法和压带剥落法等方法在大量样品测试方面具有独特优势,可定性、半定量地评价薄膜附着性能。

公开日期2011-07-06
源URL[http://202.127.1.142/handle/181331/543]  
专题上海技术物理研究所_上海技物所
推荐引用方式
GB/T 7714
钱大憨,贾 嘉,陈柳炼,等. 光电器件薄膜附着力评价方法的研究进展[J]. 红外,2011,32(1):10-15.
APA 钱大憨.,贾 嘉.,陈柳炼.,刘福浩.,刘 飞.,...&李向阳.(2011).光电器件薄膜附着力评价方法的研究进展.红外,32(1),10-15.
MLA 钱大憨,et al."光电器件薄膜附着力评价方法的研究进展".红外 32.1(2011):10-15.

入库方式: OAI收割

来源:上海技术物理研究所

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