一种检测碲镉汞薄膜光伏器件有害界面电荷的方法
文献类型：专利
| 作者 | 1、陆卫; 2、崔昊杨; 3、李志锋; 4、李宁; 5、甄红楼; 6、张波; 7、陈平平; 8、李天信; 9、陈效双; 10胡伟达 |
| 发表日期 | 2009 |
| 专利号 | 200710172700.9 |
| 著作权人 | 上海技术物理研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明 |
| 公开日期 | 2011-07-06 |
| 申请日期 | 2007 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 公开 |
| 源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/1029]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 1、陆卫,2、崔昊杨,3、李志锋,等. 一种检测碲镉汞薄膜光伏器件有害界面电荷的方法. 200710172700.9. 2009-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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