一种检测光照下半导体光探测器件表面漏电通道的方法
文献类型：专利
| 作者 | 陆卫 殷豪 李天信 胡伟达 王文娟 甄红楼 李宁 陈平平 李志锋 陈效双 李永富 龚海梅 |
| 发表日期 | 2010 |
| 专利号 | 200910050313.7 |
| 著作权人 | 上海技术物理研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明 |
| 公开日期 | 2011-07-07 |
| 申请日期 | 2009 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 公开 |
| 源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/1172]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陆卫 殷豪 李天信 胡伟达 王文娟 甄红楼 李宁 陈平平 李志锋 陈效双 李永富 龚海梅. 一种检测光照下半导体光探测器件表面漏电通道的方法. 200910050313.7. 2010-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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