结电容对光伏器件I-V特性测试的影响
文献类型：期刊论文
| 作者 | 文静; 王玲; 李言谨 |
| 刊名 | 红外
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| 出版日期 | 2008-05-10 |
| 卷号 | 29期号:5页码:14-17 |
| 关键词 | 光伏器件 I-v特性 结电容效应 Pspice |
| 英文摘要 | I-V特性是表征光伏器件性能的重要指标。在用电压扫描方式对一些器件进行I-V测试时，会出现零偏压电流为正向电流的现象。本文通过分析结电容对光伏器件电流电压测试的影响，对这种现象进行了解释。根据对由100 MΩ电阻和50 pF电容搭建的并联电路进行的测量，得到测试系统电压变化速率为2.14 V/s，从而推算出光伏器件结电容的大小近似为0.47 pF。用电路仿真软件PSpice对该测试电路进行了仿真，得到的仿真结果与实验结果相符。 |
| 公开日期 | 2011-08-24 |
| 源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/1727]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 文静,王玲,李言谨. 结电容对光伏器件I-V特性测试的影响[J]. 红外,2008,29(5):14-17. |
| APA | 文静,王玲,&李言谨.(2008).结电容对光伏器件I-V特性测试的影响.红外,29(5),14-17. |
| MLA | 文静,et al."结电容对光伏器件I-V特性测试的影响".红外 29.5(2008):14-17. |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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