微型杜瓦组件真空加速寿命试验的研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张亚妮; 朱三根; 龚海梅 |
| 刊名 | 红外
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| 出版日期 | 2008-03-10 |
| 卷号 | 29期号:3页码:11-15 |
| 关键词 | 微型杜瓦 真空寿命 加速寿命试验 |
| 英文摘要 | 微型杜瓦封装是红外焦平面探测器组件的封装形式之一，而真空寿命则是红外焦平面杜瓦组件的关键技术指标之一。通过分析影响杜瓦真空寿命的因素，建立了适合微型杜瓦真空寿命的加速试验模型，确定了其加速应力和水平，并用实验数据的统计分析方法对杜瓦的真空寿命可靠性分布作了进一步的估计。 |
| 公开日期 | 2011-08-24 |
| 源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/1729]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张亚妮,朱三根,龚海梅. 微型杜瓦组件真空加速寿命试验的研究[J]. 红外,2008,29(3):11-15. |
| APA | 张亚妮,朱三根,&龚海梅.(2008).微型杜瓦组件真空加速寿命试验的研究.红外,29(3),11-15. |
| MLA | 张亚妮,et al."微型杜瓦组件真空加速寿命试验的研究".红外 29.3(2008):11-15. |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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