Reliability Studies of High-Operating Temperature MCT Photoconductor Detectors
文献类型:期刊论文
作者 | Wei Wang*; Jintong Xu; Yan Zhang; Xiangyang Li |
刊名 | SPIE
![]() |
出版日期 | 2010 |
公开日期 | 2011-08-30 |
源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/1858] ![]() |
专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Wei Wang*,Jintong Xu,Yan Zhang,et al. Reliability Studies of High-Operating Temperature MCT Photoconductor Detectors[J]. SPIE,2010. |
APA | Wei Wang*,Jintong Xu,Yan Zhang,&Xiangyang Li.(2010).Reliability Studies of High-Operating Temperature MCT Photoconductor Detectors.SPIE. |
MLA | Wei Wang*,et al."Reliability Studies of High-Operating Temperature MCT Photoconductor Detectors".SPIE (2010). |
入库方式: OAI收割
来源:上海技术物理研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。