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Reliability Studies of High-Operating Temperature MCT Photoconductor Detectors

文献类型:期刊论文

作者Wei Wang*; Jintong Xu; Yan Zhang; Xiangyang Li
刊名SPIE
出版日期2010
公开日期2011-08-30
源URL[http://202.127.1.142/handle/181331/1858]  
专题上海技术物理研究所_上海技物所
推荐引用方式
GB/T 7714
Wei Wang*,Jintong Xu,Yan Zhang,et al. Reliability Studies of High-Operating Temperature MCT Photoconductor Detectors[J]. SPIE,2010.
APA Wei Wang*,Jintong Xu,Yan Zhang,&Xiangyang Li.(2010).Reliability Studies of High-Operating Temperature MCT Photoconductor Detectors.SPIE.
MLA Wei Wang*,et al."Reliability Studies of High-Operating Temperature MCT Photoconductor Detectors".SPIE (2010).

入库方式: OAI收割

来源:上海技术物理研究所

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