测量激光测高仪/测距仪测距能力的设备和方法
文献类型：专利
| 作者 | 1舒嵘2张海洪3胡以华4方抗美5陈育伟 |
| 发表日期 | 2006 |
| 专利号 | 200310108724.X |
| 著作权人 | 上海技术物理研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明 |
| 英文摘要 | 一种测量激光测高仪测距能力的设备，其特征在于其构成是：沿该激光测高仪的激光发射系统发出的激光束前进方向依次包括透反镜、反射镜、衰减器、模拟目标，在透反镜的透射方向设有能量计；透反镜与光束成45°，反射镜与光束成45°，且二者的作用是将激光测高仪所发出的激光光束折转，使之与激光测高仪的激光接收系统同轴；还有波形显示系统。本发明具有设备简单、操作方便、室内测试、不受外界环境影响和测量精度高等优点。 |
| 公开日期 | 2011-09-07 |
| 申请日期 | 2003 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 公开 |
| 源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/2008]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 1舒嵘2张海洪3胡以华4方抗美5陈育伟. 测量激光测高仪/测距仪测距能力的设备和方法. 200310108724.X. 2006-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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