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微波反射光电导衰减法测量InGaAs 吸收层的均匀性

文献类型:期刊论文

作者吕衍秋; 王妮丽; 庄春泉; 韩冰; 李向阳; 龚海梅
刊名半导体光电
出版日期2006
卷号27期号:5
公开日期2011-10-21
源URL[http://202.127.1.142/handle/181331/2540]  
专题上海技术物理研究所_上海技物所
推荐引用方式
GB/T 7714
吕衍秋,王妮丽,庄春泉,等. 微波反射光电导衰减法测量InGaAs 吸收层的均匀性[J]. 半导体光电,2006,27(5).
APA 吕衍秋,王妮丽,庄春泉,韩冰,李向阳,&龚海梅.(2006).微波反射光电导衰减法测量InGaAs 吸收层的均匀性.半导体光电,27(5).
MLA 吕衍秋,et al."微波反射光电导衰减法测量InGaAs 吸收层的均匀性".半导体光电 27.5(2006).

入库方式: OAI收割

来源:上海技术物理研究所

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