Failure Analysis of PC MCT Caused by Current
文献类型：期刊论文
| 作者 | Dafu Liu; Ligang Wu; Yonggang Yuan; Lianmei Zhang; Xiufang Jin; Haimei Gong |
| 刊名 | SPIE
 |
| 出版日期 | 2005 |
| 公开日期 | 2011-11-08 |
| 源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/2916]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Dafu Liu,Ligang Wu,Yonggang Yuan,et al. Failure Analysis of PC MCT Caused by Current[J]. SPIE,2005. |
| APA | Dafu Liu,Ligang Wu,Yonggang Yuan,Lianmei Zhang,Xiufang Jin,&Haimei Gong.(2005).Failure Analysis of PC MCT Caused by Current.SPIE. |
| MLA | Dafu Liu,et al."Failure Analysis of PC MCT Caused by Current".SPIE (2005). |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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