ICP刻蚀HgCdTe表面的微区XPS分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 郭靖; 叶振华; 胡晓宁; 汤丁亮; 王水菊 |
| 刊名 | 激光与红外
 |
| 出版日期 | 2005 |
| 卷号 | 35期号:11 |
| 公开日期 | 2011-11-08 |
| 源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/2978]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 郭靖,叶振华,胡晓宁,等. ICP刻蚀HgCdTe表面的微区XPS分析[J]. 激光与红外,2005,35(11). |
| APA | 郭靖,叶振华,胡晓宁,汤丁亮,&王水菊.(2005).ICP刻蚀HgCdTe表面的微区XPS分析.激光与红外,35(11). |
| MLA | 郭靖,et al."ICP刻蚀HgCdTe表面的微区XPS分析".激光与红外 35.11(2005). |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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