辐照对硅光电二极管可靠性影响的研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张建新 |
| 刊名 | 红外
 |
| 出版日期 | 2005-09-10 |
| 卷号 | 26期号:9页码:25-31 |
| 关键词 | 辐照 光电二极管 抗辐射加固 |
| 英文摘要 | 本文介绍了辐照对硅光电二极管的辐射效应和损伤机制。比较了γ射线、电子、质子、中子以及重离子辐照后，光电二极管各项特性参数的变化。根据辐照对半导体的作用原理，解释不同辐照引起的变化规律。寻求抗辐射加固方法，改善光电二极管的抗辐射性能。 |
| 公开日期 | 2011-11-14 |
| 源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/3113]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张建新. 辐照对硅光电二极管可靠性影响的研究[J]. 红外,2005,26(9):25-31. |
| APA | 张建新.(2005).辐照对硅光电二极管可靠性影响的研究.红外,26(9),25-31. |
| MLA | 张建新."辐照对硅光电二极管可靠性影响的研究".红外 26.9(2005):25-31. |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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