Hg_1-xCd_xTe光伏探测器的表面漏电流机制及其钝化
文献类型:期刊论文
作者 | 孙涛 |
刊名 | 红外
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出版日期 | 2004-02-10 |
卷号 | 25期号:2页码:17-24 |
关键词 | Hg_1-xcd_xte 光伏探测器 表面漏电流 钝化 |
英文摘要 | 表面漏电流能对Hg_1-xCd_xTe光伏探测器性能产生很大的影响,因此选择合适的钝化工艺尤其重要。本文主要论述了Hg_1-xCd_xTe光伏探测器表面漏电流机制及其钝化技术的发展状况。 |
公开日期 | 2011-11-14 |
源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/3139] ![]() |
专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙涛. Hg_1-xCd_xTe光伏探测器的表面漏电流机制及其钝化[J]. 红外,2004,25(2):17-24. |
APA | 孙涛.(2004).Hg_1-xCd_xTe光伏探测器的表面漏电流机制及其钝化.红外,25(2),17-24. |
MLA | 孙涛."Hg_1-xCd_xTe光伏探测器的表面漏电流机制及其钝化".红外 25.2(2004):17-24. |
入库方式: OAI收割
来源:上海技术物理研究所
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