Infrared spectroscopic ellipsometry of (Pb, La)(Zr, Ti)O3 thin films on platinized silicon
文献类型：期刊论文
| 作者 | Z.G. Hu ∗; F.W. Shi; T. Lin; Z.M. Huang; G.S. Wang; Y.N. Wu; J.H. Chu |
| 刊名 | Physics Letters A
 |
| 出版日期 | 2004 |
| 卷号 | 320期号:5--6 |
| 公开日期 | 2011-11-30 |
| 源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/3351]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Z.G. Hu ∗,F.W. Shi,T. Lin,et al. Infrared spectroscopic ellipsometry of (Pb, La)(Zr, Ti)O3 thin films on platinized silicon[J]. Physics Letters A,2004,320(5--6). |
| APA | Z.G. Hu ∗.,F.W. Shi.,T. Lin.,Z.M. Huang.,G.S. Wang.,...&J.H. Chu.(2004).Infrared spectroscopic ellipsometry of (Pb, La)(Zr, Ti)O3 thin films on platinized silicon.Physics Letters A,320(5--6). |
| MLA | Z.G. Hu ∗,et al."Infrared spectroscopic ellipsometry of (Pb, La)(Zr, Ti)O3 thin films on platinized silicon".Physics Letters A 320.5--6(2004). |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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