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Optical properties of PbZrxTi1-xO3 on platinized silicon by infrared spectroscopic ellipsometry
文献类型：期刊论文
| 作者 | Zhiming Huang; Xiangjiang Meng; Pingxiong Yang; Zhanhong Zhang; and Junhao Chu |
| 刊名 | APPLIED PHYSICS LETTERS
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| 出版日期 | 2000 |
| 卷号 | 76期号:26 |
| WOS记录号 | WOS:000087719800044 |
| 公开日期 | 2011-11-30 |
| 源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/3565]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Zhiming Huang,Xiangjiang Meng,Pingxiong Yang,et al. Optical properties of PbZrxTi1-xO3 on platinized silicon by infrared spectroscopic ellipsometry[J]. APPLIED PHYSICS LETTERS,2000,76(26). |
| APA | Zhiming Huang,Xiangjiang Meng,Pingxiong Yang,Zhanhong Zhang,&and Junhao Chu.(2000).Optical properties of PbZrxTi1-xO3 on platinized silicon by infrared spectroscopic ellipsometry.APPLIED PHYSICS LETTERS,76(26). |
| MLA | Zhiming Huang,et al."Optical properties of PbZrxTi1-xO3 on platinized silicon by infrared spectroscopic ellipsometry".APPLIED PHYSICS LETTERS 76.26(2000). |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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