Raman characterization of ion beam etched Hg1-xCdxTe surface
文献类型：期刊论文
| 作者 | Huiqing Lu; Jiaxiong Fang |
| 刊名 | Materials Science and Engineering
 |
| 出版日期 | 2000 |
| 卷号 | B75 |
| WOS记录号 | WOS:000087378500022 |
| 公开日期 | 2011-11-30 |
| 源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/3599]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Huiqing Lu,Jiaxiong Fang. Raman characterization of ion beam etched Hg1-xCdxTe surface[J]. Materials Science and Engineering,2000,B75. |
| APA | Huiqing Lu,&Jiaxiong Fang.(2000).Raman characterization of ion beam etched Hg1-xCdxTe surface.Materials Science and Engineering,B75. |
| MLA | Huiqing Lu,et al."Raman characterization of ion beam etched Hg1-xCdxTe surface".Materials Science and Engineering B75(2000). |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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