光机扫描成像电子学系统的集成优化研究
文献类型：学位论文
| 作者 | 陈木旺 |
| 答辩日期 | 2006-06-11 |
| 文献子类 | 博士 |
| 授予单位 | 中国科学院研究生院 |
| 导师 | 薛永祺 |
| 关键词 | 光学遥感技术 光机扫描成像 集成优化设计 通用电子学系统 |
| 学位专业 | 物理电子学 |
| 英文摘要 | 光机扫描仪在宽视场、同时探测光谱范围宽和易于设置机上定标源方面具有很大的优势，在很长一段时间内还会得到广泛的应用。本课题主要对光机扫描仪的电子学系统进行集成优化设计，使其更易于集成扩展、升级维护，以适应未来遥感技术的发展和应用的多样性。 首先详细分析国内外典型光机扫描仪OMIS、ATM和DAIS7915的改进情况，表明光机扫描仪的改进主要体现在电子学系统的升级，因此在一定程度上，电子学系统会影响原型扫描仪的生命周期。为此，提出通用化电子学系统的概念，以兼容多种扫描仪头部，易于集成扩展、升级维护。接着从通用性和遥感的发展趋势两方面出发对电子学系统的要求进行了详细的分析。在此基础上，提出了系统的设计方案并研制了一套可适用于多种光机扫描仪头部的电子学系统，主要分为数据采集器和控制器两部分。数据采集器是采用基于PXI总线设计的虚拟仪器，采样速率高，输入信号动态范围大，可以直接和扫描仪头部前置放大器连接，兼容性好，扩展性好，可满足高光谱数据多通道同步采集的需要。控制器采用“PWM发生器+桥式驱动”结构，实现了通用紧凑设计，可以同时满足多种扫描装置和定标黑体的控制接口；同时采用自定义的数据采集器和控制器之间的通讯协议，简单而有效的解决了辅助数据和遥感图像数据的配准问题。 与MAMS和OMIS-II(M)扫描仪头部联机实验，结果分析表明该电子学系统具有良好的通用性，可兼容多种类型的扫描仪头部。 论文最后就进一步提高仪器的性能提出了几点建议。 |
| 学科主题 | 红外系统与元部件 |
| 公开日期 | 2012-07-11 |
| 源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/4422]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈木旺. 光机扫描成像电子学系统的集成优化研究[D]. 中国科学院研究生院. 2006. |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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