Analysis of pn-junction degeneration in heating process for extended wavelength InGaAs detectors
文献类型：期刊论文
| 作者 | Zhu Yaoming; Deng Honghai; Wei Peng |
| 刊名 | SPIE Proc.
 |
| 出版日期 | 2011 |
| 卷号 | 8193 |
| 学科主题 | 红外探测材料与器件 |
| 公开日期 | 2012-10-23 |
| 源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/5687]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Zhu Yaoming,Deng Honghai,Wei Peng. Analysis of pn-junction degeneration in heating process for extended wavelength InGaAs detectors[J]. SPIE Proc.,2011,8193. |
| APA | Zhu Yaoming,Deng Honghai,&Wei Peng.(2011).Analysis of pn-junction degeneration in heating process for extended wavelength InGaAs detectors.SPIE Proc.,8193. |
| MLA | Zhu Yaoming,et al."Analysis of pn-junction degeneration in heating process for extended wavelength InGaAs detectors".SPIE Proc. 8193(2011). |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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