Electrical characterization of subbands in the HgCdTe surface layer
文献类型：期刊论文
| 作者 | Gui YS; Zheng GZ; Chu JH; Guo SL; Zhang XC; Tang DY; Cai Y |
| 刊名 | JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
 |
| 出版日期 | 1997 |
| 卷号 | 82期号:10页码:5000-5004 |
| 公开日期 | 2012-11-21 |
| 源URL | [http://202.127.1.142/handle/181331/6350]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Gui YS,Zheng GZ,Chu JH,et al. Electrical characterization of subbands in the HgCdTe surface layer[J]. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,1997,82(10):5000-5004. |
| APA | Gui YS.,Zheng GZ.,Chu JH.,Guo SL.,Zhang XC.,...&Cai Y.(1997).Electrical characterization of subbands in the HgCdTe surface layer.JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,82(10),5000-5004. |
| MLA | Gui YS,et al."Electrical characterization of subbands in the HgCdTe surface layer".JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 82.10(1997):5000-5004. |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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