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Electrical characterization of subbands in the HgCdTe surface layer

文献类型:期刊论文

作者Gui YS; Zheng GZ; Chu JH; Guo SL; Zhang XC; Tang DY; Cai Y
刊名JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
出版日期1997
卷号82期号:10页码:5000-5004
公开日期2012-11-21
源URL[http://202.127.1.142/handle/181331/6350]  
专题上海技术物理研究所_上海技物所
推荐引用方式
GB/T 7714
Gui YS,Zheng GZ,Chu JH,et al. Electrical characterization of subbands in the HgCdTe surface layer[J]. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,1997,82(10):5000-5004.
APA Gui YS.,Zheng GZ.,Chu JH.,Guo SL.,Zhang XC.,...&Cai Y.(1997).Electrical characterization of subbands in the HgCdTe surface layer.JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,82(10),5000-5004.
MLA Gui YS,et al."Electrical characterization of subbands in the HgCdTe surface layer".JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 82.10(1997):5000-5004.

入库方式: OAI收割

来源:上海技术物理研究所

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