一种碲锌镉晶片损伤层厚度的检测方法
文献类型：专利
| 作者 | 1虞慧娴2孙士文 3杨建荣4周昌鹤 5徐超 6 周梅华 7王云 |
| 发表日期 | 2014-10-16 |
| 专利号 | 201410546842.7 |
| 著作权人 | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明 |
| 公开日期 | 2017-02-08 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://202.127.2.71:8080/handle/181331/11638]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 作者单位 | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 1虞慧娴2孙士文 3杨建荣4周昌鹤 5徐超 6 周梅华 7王云. 一种碲锌镉晶片损伤层厚度的检测方法. 201410546842.7. 2014-10-16. |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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