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磁光 光致发光分析CdZnTe单晶带边浅杂质能级

文献类型:期刊论文

作者祁镇; 盛锋锋; 朱亮; 杨建荣; 陈熙仁; 邵军
刊名红外与毫米波学报
出版日期2017
期号5页码:589-593
关键词CdZnTe单晶 磁光光致发光光谱 应力 轻空穴
DOI10.11972/j.issn.1001-9014.2017.05.013
英文摘要通过对Bridgeman方法生长的CdZnTe单晶样品进行光致发光(Photoluminescence,PL)光谱测量,发现CdZnTe样品表面Te沉淀物的存在明显影响能量低于1.5 eV的深能级发光过程.进一步对CdZnTe晶锭的不同位置取样进行低温变磁场光致发光光谱测试,获得高分辨光谱信息.拟合分析结果表明:(1)在不合Te沉淀物的CdZnTe样品内部存在应力分布,并因此导致轻、重空穴带分裂;(2)1.57 eV发光特征源于浅施主杂质与价带间的复合过程.置取样进行低温变磁场光致发光光谱测试,获得高分辨光谱信息.拟合分析结果表明:(1)在不合Te沉淀物的CdZnTe样品内部存在应力分布,并因此导致轻、重空穴带分裂;(2)1.57 eV发光特征源于浅施主杂质与价带间的复合过程.
源URL[http://202.127.2.71:8080/handle/181331/12128]  
专题上海技术物理研究所_上海技物所
作者单位中国科学院上海技术物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
祁镇,盛锋锋,朱亮,等. 磁光 光致发光分析CdZnTe单晶带边浅杂质能级[J]. 红外与毫米波学报,2017(5):589-593.
APA 祁镇,盛锋锋,朱亮,杨建荣,陈熙仁,&邵军.(2017).磁光 光致发光分析CdZnTe单晶带边浅杂质能级.红外与毫米波学报(5),589-593.
MLA 祁镇,et al."磁光 光致发光分析CdZnTe单晶带边浅杂质能级".红外与毫米波学报 .5(2017):589-593.

入库方式: OAI收割

来源:上海技术物理研究所

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