Admittance spectroscopy of GeSi-based quantum dot systems: Experiment and theory
文献类型：期刊论文
| 作者 | Xi Li ; W. Xu ; Shihai Cao ; Qijia Cai |
| 刊名 | physical review b
 |
| 出版日期 | 2007 |
| 期号 | 76 |
| 合作状况 | 其它 |
| 收录类别 | 其他 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-07-15 ; 2011-07-12 |
| 源URL | [http://ir.hfcas.ac.cn/handle/334002/3528]  |
| 专题 | 合肥物质科学研究院_中科院固体物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Xi Li,W. Xu,Shihai Cao,et al. Admittance spectroscopy of GeSi-based quantum dot systems: Experiment and theory[J]. physical review b,2007(76). |
| APA | Xi Li,W. Xu,Shihai Cao,&Qijia Cai.(2007).Admittance spectroscopy of GeSi-based quantum dot systems: Experiment and theory.physical review b(76). |
| MLA | Xi Li,et al."Admittance spectroscopy of GeSi-based quantum dot systems: Experiment and theory".physical review b .76(2007). |
入库方式： OAI收割
来源：合肥物质科学研究院
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