有序孔阵列透射式波长计
文献类型:专利
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作者 | 蔡伟平; 罗媛媛; 李越 |
发表日期 | 2008 |
专利国别 | 中国 |
专利号 | cn201041516 |
专利类型 | 实用新型 |
权利人 | 中国科学院合肥研究院 |
是否PCT专利 | 是 |
学科主题 | 纳米材料与技术 |
公开日期 | 2009-11-11 ; 2009-11-11 ; 2009-11-11 |
申请日期 | 2007 |
专利申请号 | cn200720034109 |
源URL | [http://ir.hfcas.ac.cn/handle/334002/1813] |
专题 | 合肥物质科学研究院_中科院固体物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 蔡伟平,罗媛媛,李越. 有序孔阵列透射式波长计, 有序孔阵列透射式波长计, 有序孔阵列透射式波长计, 有序孔阵列透射式波长计. cn201041516. 2008-01-01. |
入库方式: OAI收割
来源:合肥物质科学研究院
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