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有序孔阵列透射式波长计

文献类型:专利

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作者蔡伟平; 罗媛媛; 李越
发表日期2008
专利国别中国
专利号cn201041516
专利类型实用新型
权利人中国科学院合肥研究院
是否PCT专利
学科主题纳米材料与技术
公开日期2009-11-11 ; 2009-11-11 ; 2009-11-11
申请日期2007
专利申请号cn200720034109
源URL[http://ir.hfcas.ac.cn/handle/334002/1813]  
专题合肥物质科学研究院_中科院固体物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
蔡伟平,罗媛媛,李越. 有序孔阵列透射式波长计, 有序孔阵列透射式波长计, 有序孔阵列透射式波长计, 有序孔阵列透射式波长计. cn201041516. 2008-01-01.

入库方式: OAI收割

来源:合肥物质科学研究院

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