双光路光电探测器及其检测光衰减量的方法
文献类型：专利
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| 作者 | 魏庆农 ; 方武; 方武
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| 发表日期 | 2007 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | cn101067598 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 |
| 是否PCT专利 | 是 |
| 公开日期 | 2009-11-10 ; 2011-07-13 |
| 申请日期 | 2007 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | cn200710022753 |
| 源URL | [http://ir.hfcas.ac.cn/handle/334002/1784]  |
| 专题 | 合肥物质科学研究院_中科院安徽光学精密机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 魏庆农,方武,方武. 双光路光电探测器及其检测光衰减量的方法, 双光路光电探测器及其检测光衰减量的方法. cn101067598. 2007-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：合肥物质科学研究院
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