Microwave Study of FeSe0.3Te0.7 Thin Film by TE011-Mode Sapphire Dielectric Resonator
文献类型：期刊论文
| 作者 | Wang XY
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| 刊名 | ieee transactions on applied superconductivity
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| 出版日期 | 2011 |
| 卷号 | 21期号:3页码:599-601 |
| 关键词 | Cavity resonator microwave measurement multi-gap node |
| 合作状况 | 国际 |
| 学科主题 | 半导体材料 |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2011-07-15 ; 2011-07-07 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21393]  |
| 专题 | 半导体研究所_中科院半导体材料科学重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Wang XY. Microwave Study of FeSe0.3Te0.7 Thin Film by TE011-Mode Sapphire Dielectric Resonator[J]. ieee transactions on applied superconductivity,2011,21(3):599-601. |
| APA | Wang XY.(2011).Microwave Study of FeSe0.3Te0.7 Thin Film by TE011-Mode Sapphire Dielectric Resonator.ieee transactions on applied superconductivity,21(3),599-601. |
| MLA | Wang XY."Microwave Study of FeSe0.3Te0.7 Thin Film by TE011-Mode Sapphire Dielectric Resonator".ieee transactions on applied superconductivity 21.3(2011):599-601. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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