用耦合谐振环法测量微带基片的介质特性
文献类型：期刊论文
| 作者 | 陈磊 李斌 薛祝和 范庆元 |
| 刊名 | 上海天文台年刊
 |
| 出版日期 | 2010 |
| 期号 | 31页码:72-79 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2011-06-29 |
| 源URL | [http://119.78.226.72//handle/331011/13449]  |
| 专题 | 上海天文台_VLBI研究室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈磊 李斌 薛祝和 范庆元. 用耦合谐振环法测量微带基片的介质特性[J]. 上海天文台年刊,2010(31):72-79. |
| APA | 陈磊 李斌 薛祝和 范庆元.(2010).用耦合谐振环法测量微带基片的介质特性.上海天文台年刊(31),72-79. |
| MLA | 陈磊 李斌 薛祝和 范庆元."用耦合谐振环法测量微带基片的介质特性".上海天文台年刊 .31(2010):72-79. |
入库方式： OAI收割
来源：上海天文台
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