光纤连接器端面参数测试装置
文献类型：专利
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| 作者 | 王向朝 ; 钟向红 ; 路元刚 |
| 发表日期 | 2005-09-14 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL03150825.1 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种光纤连接器端面参数测试装置，其特点是：该测试装置采用台曼-格林干涉仪结构；参考光平面反射镜采取等步长相移。本发明具有布局简单、结构合理、测量精度高的优点。 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2003-09-05 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN03150825.1 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/8686]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_信息光学开放实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王向朝,钟向红,路元刚. 光纤连接器端面参数测试装置, 光纤连接器端面参数测试装置. ZL03150825.1. 2005-09-14. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
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