电光双调制偏振光激光测距方法及其装置
文献类型：专利
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| 作者 | 赵栋 ; 刘立人 ; 王吉明 ; 潘卫清 ; 郎海涛 ; 郭袁俊 |
| 发表日期 | 2007-10-03 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL200510023595.3 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种电光双调制偏振光激光测距方法及其装置，利用激光的偏振特性作为信息载体，通过晶体的电光效应调制偏振光来进行激光测距，利用偏振光分束器的偏振分光作用，完成待测距离信息的提取，利用两平均光强探测器的比值，获取测距最终结果。本发明全部由光学方法来完成待测距离信息的处理和提取，去掉了复杂的配套处理电路系统，克服了由光电转换过程和电路系统本身引入的误差。本发明结构简单，操作方便，测量距离范围广，测量精度高，可达厘米级的测距精度。 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2005-01-26 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200510023595.3 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/8808]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_信息光学开放实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵栋,刘立人,王吉明,等. 电光双调制偏振光激光测距方法及其装置, 电光双调制偏振光激光测距方法及其装置. ZL200510023595.3. 2007-10-03. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
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