电光调制脉冲激光测距仪
文献类型：专利
| ; | |
| 作者 | 赵栋 ; 刘立人 ; 王吉明 ; 潘卫清 ; 郎海涛 ; 郭袁俊 |
| 发表日期 | 2007-05-02 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL200510023857.6 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种电光调制脉冲激光测距仪，包括一线偏振短脉冲激光光源，沿该脉冲激光光源的输出光方向，依次是偏振光隔离器、第二偏振光分束器、电光调制晶体、分光镜和1/8波片；从分光镜反射出的取样光方向上有第三偏振光分束器；所述的电光调制晶体为一长方体，其长度方向与输出光方向一致，其晶轴垂至于输出光方向，在电光调制晶体上贴有一对电极片并与一正弦交变电源的电极相连；所述的第三偏振光分束器的透过光方向和反射光方向分别设有性能相同的第一CCD探测器和第二CCD探测器，所述的第二偏振光分束器和偏振光隔离器的反射光方向分别设有性能相 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2005-02-05 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200510023857.6 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/8812]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_信息光学开放实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵栋,刘立人,王吉明,等. 电光调制脉冲激光测距仪, 电光调制脉冲激光测距仪. ZL200510023857.6. 2007-05-02. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。