激光光束质量测量装置
文献类型:专利
; | |
作者 | 于永爱 ; 唐前进 ; 张玲玲 ; 胡企铨 |
发表日期 | 2007-04-18 |
专利国别 | 中国 |
专利号 | ZL200620039036.1 |
专利类型 | 实用新型 |
权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
中文摘要 | 一种激光光束质量测量装置,包括聚焦透镜、衰减片、采集光斑的CCD和带有高速采集卡的计算机,其特点是所述的衰减片是一漫散射板,在所述的聚焦透镜和漫散射板之间有一分光器件,该分光器件由与光路成45°平行放置在光路中的第一平板和第二平板构成,该第一平板和第二平板有一错位m,第一平板的内表面的反射率为100%,第二平板内表面的反射率的取值范围为90%~99%,第二平板的外表面镀有增透膜。本实用新型可以对重复率、高能激光器的光束质量进行准确的测量,它既能对高斯光束进行测量,又能对非高斯光束的光束质量用桶中功率比的方 |
公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
申请日期 | 2006-01-18 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | CN200620039036.1 |
源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/9578] ![]() |
专题 | 上海光学精密机械研究所_先进激光技术与应用系统实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 于永爱,唐前进,张玲玲,等. 激光光束质量测量装置, 激光光束质量测量装置. ZL200620039036.1. 2007-04-18. |
入库方式: OAI收割
来源:上海光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。