宽角度宽光谱的偏振分束膜特性的测量装置
文献类型：专利
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| 作者 | 徐学科 ; 汤兆胜 ; 范正修 ; 邵建达 |
| 发表日期 | 2004-09-01 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL03232285.2 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种宽角度宽光谱的偏振分束膜特性的测量装置，其特点是沿主光路依次包括光源、单色仪、起偏棱镜、分束镜、光阑、锥状棱镜、能量计，所述的起偏棱镜置于旋转平台1上，所述的锥状棱镜和待测样品都置于旋转平台2上，在分束镜的反射光路上设对比光能量计，还有一计算机，该计算机一方面按测量程序控制旋转平台1和旋转平台2的运动，另一方面接收能量计和对比光能量计的测试结果并进行数据处理，显示或打印出测试样品的光谱和消光比。本装置具有性能稳定可靠、操作方便、测试结果精确的优点。 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2003-06-18 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN03232285.2 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/10130]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_光学薄膜技术研究与发展中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐学科,汤兆胜,范正修,等. 宽角度宽光谱的偏振分束膜特性的测量装置, 宽角度宽光谱的偏振分束膜特性的测量装置. ZL03232285.2. 2004-09-01. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
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