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X射线透射全息显微镜

文献类型:专利

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作者谢红兰 ; 陈建文 ; 高鸿奕 ; 蒋诗平 ; 徐至展
发表日期2003-05-14
专利国别中国
专利号ZL01274448.4
专利类型实用新型
权利人中国科学院上海光学精密机械研究所
中文摘要一种X射线透射全息显微镜,包括置于真空外壳内,从X射线源发射的X射线经过会聚波带片、针孔光阑和置于会聚波带片焦点处的待测样品。经过待测样品的X射线为物光与未经过待测样品的参考光形成干涉场。在干涉场与探测元件之间置有波带环数N>100的微波带片。探测元件的输出连接到计算机上。比在先技术操作方便,提高了信噪比,更具有准确性、真实性和及时性。尤其适用观测自然状态下的生物样品的三维超微细结构。
公开日期2011-07-14 ; 2011-07-15
申请日期2001-12-26
语种中文
专利申请号CN01274448.4
源URL[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/8148]  
专题上海光学精密机械研究所_强场激光物理国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
谢红兰,陈建文,高鸿奕,等. X射线透射全息显微镜, X射线透射全息显微镜. ZL01274448.4. 2003-05-14.

入库方式: OAI收割

来源:上海光学精密机械研究所

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