X射线透射全息显微镜
文献类型:专利
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作者 | 谢红兰 ; 陈建文 ; 高鸿奕 ; 蒋诗平 ; 徐至展 |
发表日期 | 2003-05-14 |
专利国别 | 中国 |
专利号 | ZL01274448.4 |
专利类型 | 实用新型 |
权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
中文摘要 | 一种X射线透射全息显微镜,包括置于真空外壳内,从X射线源发射的X射线经过会聚波带片、针孔光阑和置于会聚波带片焦点处的待测样品。经过待测样品的X射线为物光与未经过待测样品的参考光形成干涉场。在干涉场与探测元件之间置有波带环数N>100的微波带片。探测元件的输出连接到计算机上。比在先技术操作方便,提高了信噪比,更具有准确性、真实性和及时性。尤其适用观测自然状态下的生物样品的三维超微细结构。 |
公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
申请日期 | 2001-12-26 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | CN01274448.4 |
源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/8148] |
专题 | 上海光学精密机械研究所_强场激光物理国家重点实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 谢红兰,陈建文,高鸿奕,等. X射线透射全息显微镜, X射线透射全息显微镜. ZL01274448.4. 2003-05-14. |
入库方式: OAI收割
来源:上海光学精密机械研究所
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