简易X射线干涉仪
文献类型：专利
| ; | |
| 作者 | 高鸿奕 ; 陈建文 ; 谢红兰 ; 朱化凤 ; 李儒新 ; 徐至展 |
| 发表日期 | 2006-08-16 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL200410017870.6 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种简易X射线干涉仪，其特点是它由X射线源、两块平面玻璃板、样品和探测器组成：在X射线源的X射线前进的方向上，略入射地放置两块平面玻璃板，该两平面玻璃板的夹角为1″，这两块平面玻璃板分别反射X射线，其中一束反射的X射线经样品后，再与另一束反射的X射线相交并相互干涉后，用探测器进行检测。本发明具有结构简单、成本低、使用可靠的优点。 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2004-04-22 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200410017870.6 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/8350]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_强场激光物理国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 高鸿奕,陈建文,谢红兰,等. 简易X射线干涉仪, 简易X射线干涉仪. ZL200410017870.6. 2006-08-16. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。