双色场X射线交叉相关测量仪
文献类型：专利
| ; | |
| 作者 | 霍义萍 ; 曾志男 ; 李儒新 ; 徐至展 |
| 发表日期 | 2008-03-05 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL200410052782.X |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种双色场X射线交叉相关测量仪，包括差分泵浦真空系统和高强度超短飞秒激光束，在该飞秒激光束的光路中有分束镜，该分束镜的反射光束经真空系统的CaF窗片进入真空系统，在该反射光束的光路上依次还有时间延迟系统、第一会聚透镜、He气室、第一薄膜片、合束镜、球形多层膜反射镜，所述分束镜的反射光束经第一全反射镜和第二CaF窗片进入真空系统，该透射光束依次经BBO倍频晶体、第二会聚透镜、第二全反射镜、第二薄膜片到达合束镜，该合束镜是一中心开小孔的反射镜，在所述球形多层膜反射镜的反射光方向设有氖气喷嘴和时间飞行电子谱仪， |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2004-07-13 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200410052782.X |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/8354]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_强场激光物理国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 霍义萍,曾志男,李儒新,等. 双色场X射线交叉相关测量仪, 双色场X射线交叉相关测量仪. ZL200410052782.X. 2008-03-05. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。