双环路二维剪切干涉检测装置
文献类型：专利
| ; | |
| 作者 | 朋汉林 ; 林礼煌 ; 徐宏玮 ; 冷雨欣 |
| 发表日期 | 2008-03-05 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL200410066386.2 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种双环路二维剪切干涉检测装置，其构成是在待测激光束的前进方向依次是扩束镜、45°置放的第一分光镜、135°置放的第二分光镜及90°°置放的第二全反射镜，在第二反射镜的反射光路上设置第一全反射镜，且该第一全反射镜的反射光正好以45°入射第二分光镜，其透过光方向有第一CCD，在第一分光镜的反射光路上且成45°地置放第三分光镜、成135°置放第三全反射镜，在该第三全反射镜的反射光路上设置第四全反射镜，在该第四全反射镜的反射光正好以45°入射第三分光镜，其透射光方向有第二CCD，所述的第一CCD和第二CCD的输 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2004-09-15 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200410066386.2 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/8356]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_强场激光物理国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 朋汉林,林礼煌,徐宏玮,等. 双环路二维剪切干涉检测装置, 双环路二维剪切干涉检测装置. ZL200410066386.2. 2008-03-05. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。