孪生波带片X射线干涉仪
文献类型：专利
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| 作者 | 陈建文 ; 高鸿奕 ; 朱化凤 ; 干慧菁 ; 李儒新 ; 徐至展 |
| 发表日期 | 2006-02-22 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL200410067779.5 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种孪生波带片X射线干涉仪，包括一X射线源，其特征是在该X射线源的X射线前进方向上，放置两中心略偏且贴近的第一波带片和第二波带片，在第一波带片或第二波带片的焦点后设有一放置待测样品的样品架，再后设置一探测干涉图形的X射线探测器。本发明孪生波带片X射线干涉仪，结构简单，不要任何分束器和晶体，在生物医学和材料科学中有着广泛的应用前景。 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2004-11-03 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200410067779.5 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/8362]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_强场激光物理国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈建文,高鸿奕,朱化凤,等. 孪生波带片X射线干涉仪, 孪生波带片X射线干涉仪. ZL200410067779.5. 2006-02-22. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
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