光学尘埃粒子计数器的光学探头
文献类型：专利
| ; | |
| 作者 | 黄惠杰 ; 赵永凯 ; 杜龙龙 ; 程兆谷 ; 路敦武 |
| 发表日期 | 2003-07-30 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL01105812.9 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种光学尘埃粒子计数器的光学探头，含有两条相互垂直的照明光路和散射光收集光路。在照明光路上，于光源和照明透镜组之间置有第一齐明透镜，于照明透镜组和光敏感区之间置有第二齐明透镜。在散射光收集光路上，于光敏感区和接收透镜组之间置有第三齐明透镜。由于上述光路中置有三个齐明透镜，使得本发明具有较高的灵敏度、计数效率、粒径集中度、准确度和信噪比。检测速度比在先技术提高10倍以上。 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2001-03-30 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN01105812.9 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/9828]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_精密光电测控研究与发展中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 黄惠杰,赵永凯,杜龙龙,等. 光学尘埃粒子计数器的光学探头, 光学尘埃粒子计数器的光学探头. ZL01105812.9. 2003-07-30. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。