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双频激光干涉仪测量速度的自由落体测量装置

文献类型:专利

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作者程兆谷 ; 高海军
发表日期2006-12-27
专利国别中国
专利号ZL200410053304
专利类型发明
权利人中国科学院上海光学精密机械研究所
中文摘要一种双频激光干涉仪测量速度的自由落体测量装置,包括一双频激光器,在该激光器的输出光路上设置一偏振分光镜,该偏振分光镜的分光面与激光器的输出光路成45°,在该偏振分光镜透射光方向是一固定角锥棱镜,反射光方向是一移动角锥棱镜,在该偏振分光镜的输出光方向、双频激光器的同侧还有一探测器,其特征在于所述的移动角锥棱镜通过其镜座固定在一滑块上,该滑块设置在导轨上,该导轨安装在导轨底座上并与重力方向严格一致。本发明装置对双频激光干涉仪测量速度测量具有较好的准确性、测量速度范围大、测量装置简单、方法简便和经济等一系列优点
公开日期2011-07-14 ; 2011-07-15
申请日期2004-07-30
语种中文
专利申请号CN200410053304.0
源URL[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/9852]  
专题上海光学精密机械研究所_精密光电测控研究与发展中心
推荐引用方式
GB/T 7714
程兆谷,高海军. 双频激光干涉仪测量速度的自由落体测量装置, 双频激光干涉仪测量速度的自由落体测量装置. ZL200410053304. 2006-12-27.

入库方式: OAI收割

来源:上海光学精密机械研究所

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