连续采样的哈特曼检测装置
文献类型：专利
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| 作者 | 黄惠杰 ; 阎岩 ; 刘丹 ; 任冰强 ; 赵永凯 ; 黄立华 ; 张维新 |
| 发表日期 | 2007-07-11 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL200410084250.4 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种用于透镜光学质量检测的连续采样的哈特曼检测装置，由照明系统、光束扫描机构、被检透镜、图像接受系统以及系统控制与数据处理软件组成，其特征在于：所述的照明系统是一输出光束口径可调的准直光源；所述的光束扫描机构由圆形屏、第一步进电机、一维电动调整架和支架组成；所述的图像接受系统包括CCD摄像机、导轨、第二步进电机、支架和计算机，所述的计算机与第一步进电机、第二步进电机、第三步进电机和CCD摄像机通过信号线相连。本发明能对被检透镜进行全面检测，可以得到被检透镜的局部误差。采样光束口径大小可以随意调节。检测波长 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2004-11-17 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200410084250.4 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/9856]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_精密光电测控研究与发展中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 黄惠杰,阎岩,刘丹,等. 连续采样的哈特曼检测装置, 连续采样的哈特曼检测装置. ZL200410084250.4. 2007-07-11. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
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