透明材料折射率测量方法及其干涉测量仪
文献类型：专利
| ; | |
| 作者 | 黄国松 ; 李顺光 |
| 发表日期 | 2005-01-26 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL02159100.8 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种透明材料折射率的测量方法及其干涉测量仪，主要是将待测材料制成两块对称棱镜组成的组合平板样品，并将其置于马赫-陈德尔干涉仪一臂上，产生两路干涉，一路是马赫-陈德尔干涉，另一路是组合平板样品的两通光面形成的等厚干涉，组合平板样品中的一块固定，另一块沿固定块平移的同时，精密测定移动过程中两路干涉条纹的变化量m1和m2；利用n＝1/[1-2(m1/m2)]计算待测材料的折射率。本发明的优点是：折射率测量精度达10 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2002-12-31 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN02159100.8 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/9718]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_高功率激光单元技术研发中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 黄国松,李顺光. 透明材料折射率测量方法及其干涉测量仪, 透明材料折射率测量方法及其干涉测量仪. ZL02159100.8. 2005-01-26. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。