激光光斑有效面积测试装置
文献类型：专利
| ; | |
| 作者 | 杨镜新 ; 沈卫星 ; 庄亦飞 |
| 发表日期 | 2005-02-02 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL03116835.3 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种激光光斑有效面积测试装置，其特征在于它由CCD成像测量系统与计算机构成，两者之间采用光缆进行光电信号耦合，所说的CCD成像测量系统为面阵CCD成像系统，所述的计算机应具有64位图形加速卡、显示器、和打印机，该计算机(3)安装有计算激光光斑有效面积的软件程序，该软件要求运行在中文Windows95以上环境下，同时应配有MATLAB作为辅助工具平台。本发明装置具有测试精度高、操作简单的优点。 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2003-05-09 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN03116835.3 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/9070]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_高功率激光物理国家实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨镜新,沈卫星,庄亦飞. 激光光斑有效面积测试装置, 激光光斑有效面积测试装置. ZL03116835.3. 2005-02-02. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。