晶体消光比半波电压及波片相位延迟的智能综合测量仪
文献类型：专利
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| 作者 | 薄锋 ; 朱健强 ; 师树恒 ; 王勇 |
| 发表日期 | 2008-04-02 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL200510072558.1 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种晶体消光比半波电压及波片相位延迟的智能综合测量仪，其构成是：在一脉冲调制光源的光束前进方向呈45°地设一分光镜，在该分光镜的透射方向依次是起偏器、待测样品、检偏器、第一光电探测器、第一解调及放大电路和第一A/D转换器，该第一A/D转换器的信号线接计算机；该计算机的第一输出通过第一步进电机驱动检偏器绕光轴旋转，该计算机的第二输出通过第二步进电机驱动待测样品绕光轴旋转；在分光镜的反射方向依次是衰减片、第二光电探测器、第二解调及放大电路、第二A/D转换器，该第二A/D转换器的信号线接计算机。本发明不仅能在一 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2005-05-13 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200510072558.1 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/9126]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_高功率激光物理国家实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 薄锋,朱健强,师树恒,等. 晶体消光比半波电压及波片相位延迟的智能综合测量仪, 晶体消光比半波电压及波片相位延迟的智能综合测量仪. ZL200510072558.1. 2008-04-02. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
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