全方位光束检验仪
文献类型：专利
| ; | |
| 作者 | 徐德衍 ; 陈淑琴 ; 郑朝思 |
| 发表日期 | 1995-11-26 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL92108417.X |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 本发明属于光学仪器领域的一种全方位光束检测仪。用于光学与激光工程，光学与激光实验中光束准直与质量检测。该检验仪由有入射光阑屏构成固定部分和带有楔角的剪切干涉平板可绕入射光束光轴转动３６０°以及绕平板中心法线转动３６０°和含有固定和转动两块分划板的干涉图形观测屏所构成的转动部分两大部分组成。本发明的检验仪具有任意方位光束的剪切干涉，检测灵敏度高，可直接给出定量结果，结构简单，造价低廉，易于推广使用的优点。 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 1992-05-15 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN92108417.X |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/9228]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_高功率激光物理国家实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐德衍,陈淑琴,郑朝思. 全方位光束检验仪, 全方位光束检验仪. ZL92108417.X. 1995-11-26. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。