一种实时测量纳米粒子组成元素比值的飞行时间质谱仪
文献类型:专利
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作者 | 李海洋 ; 张娜珍 |
发表日期 | 2010-06-23 |
专利国别 | 中国 |
专利号 | CN200810229881.9 |
专利类型 | 发明 |
关键词 | 物理化学 |
权利人 | 中国科学院大连化学物理研究所 |
是否PCT专利 | 是 |
中文摘要 | 本发明涉及飞行时间质谱仪,具体的说是一种实时测量纳米粒子组成元素比值的飞行时间质谱仪,其包括脉冲进样装置、束源室和带有电离室的飞行时间质谱质量分析器,其特征在于电离室位于飞行时间质量分析器内部,脉冲进样装置的前端连接脉冲阀,脉冲进样装置伸入束源室内部,束源室位于激光电离室正上方,其出口通过喷嘴与激光电离室相连,一纳秒长波长高能激光器设置于飞行时间质谱质量分析器的外侧,激光器发出的高能激光束垂直穿过电离室,将纳米粒子完全电离为一价和高价离子,其高价离子比值可以准确反映纳米粒子组成元素的比值,由飞行时间质谱仪记录电离产生的离子。本发明可快速的对纳米粒子元素比值进行测量,测量不受电离激光能量变化的影响。 |
学科主题 | 物理化学 |
公开日期 | 2010-06-23 ; 2011-07-11 |
申请日期 | 2008-12-17 |
语种 | 中文 |
资助信息 | 大连化物所 |
专利证书号 | 带填写 |
专利申请号 | CN200810229881.9 |
专利代理 | 马驰 ; 周秀梅 |
源URL | [http://159.226.238.44/handle/321008/107181] |
专题 | 大连化学物理研究所_中国科学院大连化学物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李海洋,张娜珍. 一种实时测量纳米粒子组成元素比值的飞行时间质谱仪, 一种实时测量纳米粒子组成元素比值的飞行时间质谱仪. CN200810229881.9. 2010-06-23. |
入库方式: OAI收割
来源:大连化学物理研究所
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