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一种同时测量微通道中主体流速和近壁流速的方法

文献类型:专利

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作者林炳承 ; 盖宏伟 ; 王 琪 ; 马银法
发表日期2006-03-29
专利国别中国
专利号CN200410050472.4
专利类型发明
关键词物理化学
权利人中国科学院大连化学物理研究所
中文摘要本发明提供一种同时测量微通道中主体流速和近壁流速的方法,其特征在于:激光器发出的激光经过反射镜I、反射镜II、透镜和分光镜后,用宽场激发,或者只经过反射镜I用隐失场激发;通过调整反射镜I、反光镜 II使激光光斑处于显微镜物镜视场和微通道的中心;荧光颗粒(175nm)溶液或λDNA溶液滴于微通道的缓冲池中,在压力或电动力驱动下在微通道中流动,流经激光焦斑时,发出的荧光由显微镜物镜收集,经带通滤光片和陷波滤光片后在电荷耦合器上成像,用与颗粒成像测速仪(CCD)相同的方法确定其流动速度。本发明提供一种同时测量微通道中主体流速和近壁流速的方法的优点在于:在一次实验中既能测量到主体流速,又能测量到近壁处流速。
是否PCT专利
学科主题物理化学
公开日期2006-03-29 ; 2011-07-11
申请日期2004-09-21
语种中文
资助信息大连化物所
专利证书号带填写
专利申请号CN200410050472.4
专利代理陈亚屏
源URL[http://159.226.238.44/handle/321008/108961]  
专题大连化学物理研究所_中国科学院大连化学物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
林炳承,盖宏伟,王 琪,等. 一种同时测量微通道中主体流速和近壁流速的方法, 一种同时测量微通道中主体流速和近壁流速的方法. CN200410050472.4. 2006-03-29.

入库方式: OAI收割

来源:大连化学物理研究所

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