结构光投影快速测量装置及方法
文献类型:专利
作者 | 宋宗玺![]() ![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2018-12-21 |
专利号 | CN201810045427.1 |
著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
产权排序 | 1 |
其他题名 | 结构光投影快速测量装置及方法 |
英文摘要 | 本发明属于光电检测领域,具体涉及一种结构光投影快速测量装置及方法。测量装置包括相机和布置在相机周围的光学投影系统,所述光学投影系统包括N个衍射光栅和与衍射光栅一一对应的N个光源,光源投影到光栅后产生正弦图案的相移条纹图;N个衍射光栅产生的N幅相移条纹图之间具有2π/N的相位差,N个光源分别通过同步电路与相机相连。本发明解决了现有的测量设备体积大、质量重且测量速度慢的技术问题。 |
学科主题 | G01b11/25 |
公开日期 | 2018-07-24 |
DOI标识 | G01B11 |
申请日期 | 2018-01-17 |
语种 | 中文 |
状态 | 申请中 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31052] ![]() |
专题 | 其它单位_其它部门 |
作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 宋宗玺,李宝鹏,雷浩,等. 结构光投影快速测量装置及方法. CN201810045427.1. 2018-12-21. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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